Microelectronics Journal

SCIE

國際簡稱：MICROELECTRON J 參考譯名：微電子雜志

主要研究方向：工程技術-工程：電子與電氣非預警期刊審稿周期：約3.0個月

《微電子雜志》(Microelectronics Journal)是一本由Elsevier出版的以工程技術-工程：電子與電氣為研究特色的國際期刊，發表該領域相關的原創研究文章、評論文章和綜述文章，及時報道該領域相關理論、實踐和應用學科的最新發現，旨在促進該學科領域科學信息的快速交流。該期刊是一本未開放期刊，近三年沒有被列入預警名單。

3區中科院分區
Q3 JCR分區
293 年發文量
1.9 IF影響因子
未開放 是否OA
59 H-index
1967 創刊年份
Monthly 出版周期
English 出版語言

Published since 1969, the Microelectronics Journal is an international forum for the dissemination of research and applications of microelectronic systems, circuits, and emerging technologies. Papers published in the Microelectronics Journal have undergone peer review to ensure originality, relevance, and timeliness. The journal thus provides a worldwide, regular, and comprehensive update on microelectronic circuits and systems.

The Microelectronics Journal invites papers describing significant research and applications in all of the areas listed below. Comprehensive review/survey papers covering recent developments will also be considered. The Microelectronics Journal covers circuits and systems. This topic includes but is not limited to: Analog, digital, mixed, and RF circuits and related design methodologies; Logic, architectural, and system level synthesis; Testing, design for testability, built-in self-test; Area, power, and thermal analysis and design; Mixed-domain simulation and design; Embedded systems; Non-von Neumann computing and related technologies and circuits; Design and test of high complexity systems integration; SoC, NoC, SIP, and NIP design and test; 3-D integration design and analysis; Emerging device technologies and circuits, such as FinFETs, SETs, spintronics, SFQ, MTJ, etc.

Application aspects such as signal and image processing including circuits for cryptography, sensors, and actuators including sensor networks, reliability and quality issues, and economic models are also welcome.

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Microelectronics Journal期刊信息

ISSN：0026-2692
出版語言：English
是否OA：未開放
E-ISSN：1879-2391
出版地區：ENGLAND
是否預警：否
出版商：Elsevier
出版周期：Monthly
創刊時間：1967
開源占比：0.0103
Gold OA文章占比：2.61%
OA被引用占比：0.0096...
出版國人文章占比：0
出版撤稿占比：0
研究類文章占比：99.32%

Microelectronics Journal CiteScore評價數據（2024年最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指數

0.39

0.854

學科類別	分區	排名	百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Condensed Matter Physics	Q2	181 / 434	58%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering	Q2	332 / 797	58%
大類：Physics and Astronomy 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics	Q2	101 / 224	55%
大類：Physics and Astronomy 小類：Surfaces, Coatings and Films	Q2	61 / 132	54%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials	Q2	133 / 284	53%

名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發表文獻的平均受引用次數，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個指標。當年CiteScore 的計算依據是期刊最近4年（含計算年度）的被引次數除以該期刊近四年發表的文獻數。例如，2022年的 CiteScore 計算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對2019-2022年發表的文件的引用數量÷2019-2022年發布的文獻數量注：文獻類型包括：文章、評論、會議論文、書籍章節和數據論文。

Microelectronics Journal中科院評價數據

中科院 2023年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	3區 4區

中科院 2022年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	3區 4區

中科院 2021年12月舊的升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	4區 4區

中科院 2021年12月基礎版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	4區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	4區 4區

中科院 2021年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	4區 4區

中科院 2020年12月舊的升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學科		小類學科
否	否	工程技術	3區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	4區 4區

Microelectronics Journal JCR評價數據（2023-2024年最新版）

按JIF指標學科分區	收錄子集	分區	排名	百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	211 / 352	40.2%
學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q4	110 / 140	21.8%

按JCI指標學科分區	收錄子集	分區	排名	百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	238 / 354	32.91%
學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	94 / 140	33.21%

Microelectronics Journal歷年數據統計

影響因子

中科院分區

Microelectronics Journal中國學者發文選摘

1、16-Cell stackable battery monitoring and management integrated circuit for electric vehicles
Author: Zhu, Guangqian; Qian, Libo; Li, Yongyuan; Guo, Wei; Ding, Ruixue; Yang, Yintang

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 136, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2023.105782
2、A wafer-level three-step calibration technique for BJT-based CMOS temperature sensor
Author: Gao, Ying; Liu, Xin; Jiang, Yanfeng

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105671
3、Scalable modeling of grounded coplanar waveguide for MMICs design using neural network with an effective sampling strategy
Author: Hu, Yanghui; Zhang, Yuming; Lu, Hongliang; Tan, Daidao; Qi, Junjun

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105670
4、A configurable area-efficient LCoS chip design with centrosymmetric pixel array
Author: Zhao, Tianhu; Liang, Yuhua; Feng, Lichen

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105652
5、On-chip SRR and CSRR for millimeter-wave integrated systems: Review and applications
Author: Yang, Ke; Liang, Yuan; Zhang, Hao Chi; Feng, Guangyin

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105664
6、A 10-MHz 85.1-dB SFDR 1.1-mW continuous-time Delta-sigma modulator employing calibration-free SC DAC and passive front-end low-pass filter
Author: Jin, Wei; Pun, Kong-Pang

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105666
7、CMOS variable-gain phase shifter based on time-varying vector-sum method and its application to Ku-band phased array
Author: Cheng, Guoxiao; Zhang, Jin-Dong; Chen, Qiaoyu; Sima, Boyu; Wu, Wen

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105672
8、A novel-16-60 V input common-mode voltage current-shunt monitor?
Author: Duan, Quanzhen; Duan, Ying; Kong, Dameng; Li, Liwei; Huang, Shengming

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105663